天瑞熒光光譜怎麼樣
X熒光光譜儀XRF
是用X-射線管發出的初級線束輻照樣品，激發各化學元素髮出二次譜線。是用X射線直接照射樣品發射X熒光，分光晶體將熒光光束色散後，測定各種元素的特徵X-射線波長和強度，從而測定各種元素的含量；而光譜儀是透過濾光片得到背景相對較低的X射線，照射樣品發射X熒光，X熒光藉助高解析度敏感半導體檢測器與多道分析器將未色散的X-射線按光子能量進行色散，根據各元素特徵能量的強度高低來測定各元素的量；根據各元素特徵能量的強度高低來測定各元素的量，這就大大提高了儀器的信噪比，提高了能譜儀分析輕元素的能力。
X熒光光譜儀XRF
的效能特點：
專業的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用於鍍層檢測和RoHS檢測。
超薄窗大面積的進口SDD探測器。
內建信噪比25倍。
抽真空樣品腔，有利於低含量輕元素的分析
針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變數非線性迴歸程式
智慧全元素分析軟體，與儀器硬體相得益彰，且操作簡單。
X熒光光譜儀XRF
的主要優勢：
1、採用獨特的激發X光源，樣品激發結構和探測系統，大大提高儀器元素的檢測靈敏度（降低檢出限）；
2、具有現代化的外觀，結構和色彩，上蓋電動控制開關，更人性化；
3、準直器，濾光片自動切換，可適應不同的樣品測試要求；
4、大容量的樣品腔和高畫質攝像頭，樣品測量更靈活方便；
5、配備功能齊全的測試軟體。
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