何為原理誤差
在鐵基或鋁基材料表面塗鍍膜是一種重要的表面加工技術，膜的厚度直接影響其效能，故需對其進行有效的測量。常用的方法就是使用膜厚儀直接進行無損測試，本文就給大家帶來膜厚儀原理及使用方法。
膜厚測量方法有哪些？
渦流膜厚測試儀，用於測量鋁型材表面氧化膜或絕緣塗層厚度。這種膜厚儀輕便，操作簡單，效能穩定，適用於鋁型材膜厚現場檢測，精度±3%。
紅外膜厚感測器專用於金屬板帶表面漆膜厚度連續檢測。測量系統根據塗層的紅外能量吸收原理和漆膜下的金屬表面反射回的能量來測出膜厚。可測量鋁容器，密封蓋，飲料罐的塗層厚度，測量誤差小於50mg/平方米。工廠預先校準功能可使測量系統方便而迅速地投入使用。
磁性測厚儀主要利用電磁場磁阻原理，透過流入鋼鐵底材的磁通量大小，即磁體與磁性底材之間間隙的變化引起磁通量的變化來測定塗膜厚度。主要適用於鐵、鎳等磁性基材表面塗膜厚度測量。
電阻法膜厚儀只適用於金屬和半導體薄膜厚度的監控。
除了以上無損地膜厚測量方法之外，還有金相顯微鏡法、觸針法、溼膜厚度計等多種破壞性測試方法。
膜厚儀原理是什麼？
不同膜厚儀測量原理是有區別的，其適用範圍也會有差異。這裡就給大家帶來渦流膜厚儀工作原理。利用渦流法檢測法，能夠檢測金屬表面的氧化膜、漆膜或電鍍膜等膜的厚度；但是，金屬材料的性質不同，漆膜後檢測也有很大不同。
氧化層膜厚測定方法：假定某金屬表面有氧化膜，則電感感測器與金屬表面的距離為x；因為金屬表面電渦流對感測器線圈中磁場的反作用，改變了感測器的電感量，設此時的電感量為（L0-ΔL）；當金屬表面無氧化層時，感測器與其表面距離為x0，對應的電感量為L0，那麼，該金屬表面的氧化厚度應為（x0-x），該厚度就可透過電感量的變化測得。
金屬氧化層的渦流測量可有下圖所示的測量電路實現。
在膜厚測量電路中，正弦振盪器IC1、IC2產生頻率為1-100kHz的正弦波，加在變壓器B1初級上，次級輸出的正弦訊號加到橋式電路的輸入端，由該橋路在非平衡狀態下獲取金屬材料表面的渦流變化；渦流變化量由檢測放大器IC3進行適當放大，再經交流放大器IC4和IC5放大數十倍後，經轉換電路將渦流變化量轉換為膜厚，由指示儀表顯示。
除此之外，還可用電阻率或導磁率的變化對材料進行無損傷等測定。
膜厚儀的使用方法：
測定準備
（1）確保電池正負極方向正確無誤後設定。
（2）探頭的選擇和設定：在探頭上有電磁式和渦電流式2種類型。對準測定物件，在本體上進行設定。
測定方法
（1）探頭的選擇和安裝方法：確認電源處於OFF狀態，與測定物件的質地材質接觸，安裝LEP-J或LHP-J。
（2）調整：確認測定物件已經被調整。未調整時要進行調整。
（3）測定：在探頭的末端加一定的負荷，即使用［一點接觸定壓式］。抓住與測定部接近的部分，迅速在與測定面成垂直的角度按下。下述的測定，每次都要從探頭的前端測定面開始離開10mm以上。使用管狀的東西連續測定平面時，如果採用探頭介面卡，可以更加穩定地進行測定。
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